BeptHftaflbHas установканад поверхностью платы

Установка в отверстие платы 12,7 мм

Рис. 1.7. Два способа установки корпуса ТО-5 на плату.

Модифицированный корпус ТО-5 может устанавливаться вертикально над поверхностью печатной платы или в отверстии в ней (рис. 1.7). Второй способ предпочтительнее, но в любом случае, установлен ли корпус над платой или в ней, через область присоединения выводов корпуса не должны проходить другие печатные проводники ни на одной из сторон платы. При установке над поверхностью платы между контактными площадками не остается места для прокладки дополнительных проводников, тогда как при установке микросхемы в отверстии платы расстояние между контактными площадками вполне достаточно для размещения дополнительных проводников (так как увеличивается диаметр окружности, по которой расположены контактные отверстия).

Интегральная микросхема 555 обычно выпускается в миниатюрном 8-штырьковом пластмассовом корпусе типа DIP. Но иногда эта микросхема может встретиться и в круглом металлическом корпусе, имеющем конструкцию типа ТО-5. То же самое можно сказать и о микросхеме типа 556, которая представляет собой два таймера 555 на одном кристалле. Однако в большинстве магазинов, торгующих то-»

варами для радиолюбителей, предлагаются микросхемы в пластмассовом корпусе типа DIP, который наиболее широко используется для сборки этих таймер-ных ИС.

Проверка электронных коллпонентов

У тех, кто прежде работал только с дискретными компонентами, переход на микросхемы вызывает некоторую неуверенность. Это связано с новизной таких приборов по сравнению с теми, которые им уже хорошо известны. Но в интегральных схемах нет ничего нового. Они уже долгое время служат нам, и многие конструкторы давно предпочитают их аналогичным схемам из дискретных компонентов. Включение ИС в схему не более сложно, чем включение трех или четырех транзисторов - в зависимости от числа ее выводов. У таймера 555 только восемь внешних выводов, но даже и они не всегда подключаются все вместе. Кроме того, можно использовать специальную панельку для установки ИС, чтобы дополнительно защитить их от повреждений, возможных при непосредственной припайке выводов.

Когда говорят, что ИС-это целая схема на кристалле, то такое утверждение не всегда точно. Каждая микросхема в большинстве случаев требует для своей работы некоторого количества дополнительных дискретных компонентов. Микросхема обычно представляет собой только часть полной схемы, в которую могут входить другие ИС, а также транзисторы, диоды и дополнительные дискретные элементы. Поэтому необходимо знать, как проверить те или иные приборы для выявления неисправностей и наладки электронных схем, которые будут описаны в одной из следующих глав.

Можно приобрести специальный тестер для интегральных микросхем, но этот прибор может оказаться довольно дорогим и потребовать большого объема знаний для правильной эксплуатации. Можно также приобрести прибор для проверки транзисторов и приспособить его для контроля микросхем или частей микросхем, содержащих транзисторы, электроды которых подключены к внешним выводам.

Единственным прибором, необходимым для полной наладки и проверки схем, представленных в этой книге, является обычный мультиметр (универсальный прибор). Одна из следующих глав посвящена применению этого прибора, но сначала остановимся на полупроводниковых компонентах. Приведенный ниже материал взят из книги «Общее руководство по замене полупроводниковых приборов фирмы «Сильвания» (Sylvania ECG Semiconductor Master Replacement Guide), изданной фирмой «Филипс И-С-Джи». Он посвящен проверке многих различных типов полупроводниковых приборов, большинство которых будет использовано в схемах, описываемых в нашей книге. Кроме того, многие из этих методов могут быть применены и при проверке ИС,

Омметры

Омметры при работе с транзисторными схемами следует использовать с большой осторожностью. Необходимо помнить, что омметр содержит внутренний источник напряжения. К тому же некоторые измерительные приборы могут иметь большой выходной ток.

Измерения производятся при помощи остроконечных щупов, что облегчает проверку печатных плат. Щупы уменьшают опасность случайного замыкания соседних проводников. В то же время острые концы щупов легко прокалывают изоляционную смолу, лак или пленку окисла на поверхности проводников. Неправильные измерения часто являются результатом плохого контакта щупа с печатным проводником.

Внутрисхемные измерения часто приводят к неверным результатам из-за шунтирующего действия рп-пе-реходов транзисторов, которые смещаются в прямом направлении напряжением источника питания омметра (рис. 1.8). Если омметр подключить так, как показано на рисунке, то под действием напряжения его внутреннего источника питания на эмиттерном пере* ходе транзистора возникнет прямое смещение. Это приведет к тому, что сопротивление перехода Re шуш тирует резистор R2,

Низкоомное шунтирующее действие могут оказы* вать также малогабаритные электролитические кон*